设计应用

一种用于时间交织型SAR ADC的电容校正技术

作者：杨荣彬，徐振涛
发布日期：2021-07-05
来源：2021年电子技术应用第7期

0 引言

    高速ADC作为关键模块在航空航天、雷达通信[1]和软件无线电等领域发挥着重要作用。随着应用的发展，这些领域对模数转换器的性能要求越来越高，特别是在对续航有限制的应用场合，不仅需要ADC的速度和精度满足系统要求，还对ADC的低功耗提出了明确要求[2]。

    逐次逼近(Successive-Approximation-Register，SAR)ADC由于其本身的类数字电路特性，使得该类型的ADC可以较好地发挥先进工艺制程的优势，在提高性能的同时降低功耗。随着集成电路的制造工艺发展到纳米量级，SAR ADC的功耗优势将越来越明显[3-5]。

    时间交织(Time-Interleaved，TI)ADC是将多个低速工作的ADC按照时间顺序依次对输入信号进行采样并转换量化输出，并将各低速ADC的输出结果按对应的工作次序交织成最终输出，以实现模拟信号到数字信号的高速转换。随着集成电路制造工艺的发展，基于纳米工艺设计制造的低功耗高速时间交织型SAR ADC在近年来越来越受到人们的重视[6-8]。




本文详细内容请下载：http://www.chinaaet.com/resource/share/2000003652。




作者信息：

杨荣彬，徐振涛

(成都铭科思微电子技术有限责任公司，四川 成都610051)




wd.jpg

此内容为AET网站原创，未经授权禁止转载。
时间交织 逐次逼近模数转换器 电容失配 校正技术

Copyright © 2005-2024 华北计算机系统工程研究所版权所有 京ICP备10017138号-2

Baidu
map