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中央处理器安全测试与自修复技术研究

作者：周永忠1，洪晟2，姜义初1，顾爽3，李雷1，刘亮1，高欣妍3，阴宏伟2，岳天羽2

发布日期：2022-09-19

来源：2022年电子技术应用第9期

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CPU(中央处理器)系统通常由板载集成电路驱动，具有微型化、标准化、通用化等一系列特点。随着工业控制对设备精密度、复杂度、安全度以及功能密度要求的日益提高，中央处理器安全技术成为工业控制芯片可靠的重要保障，因此研究其安全测试和自修复技术具有重要意义。

当前中央处理器安全测试以及测试前的故障注入成为国内外研究的重点，研究系统面对突发情况时的自修复技术有利于更好提高工控芯片的安全性。当前技术主要是致力于学科融合，应用生物等各领域的知识硬软件结合进行，但各方法都有所偏重，单独的故障处理技术无法很好地满足工业控制的安全需求。因此，有必要建立协同各方面故障处理技术的模型来指导中央处理器的安全发展方向。

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作者信息：

周永忠1，洪晟2，姜义初1，顾爽3，李雷1，刘亮1，高欣妍3，阴宏伟2，岳天羽2

(1.北京智芯微电子科技有限公司数字芯片设计中心，北京100192；

2.北京航空航天大学网络空间安全学院，北京100191；

3.北京航空航天大学未来空天技术学院/高等理工学院，北京100191)