设计应用

芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现

作者：徐靖林，王栋，魏斌，王赟，窦志军，成嵩
发布日期：2023-02-28
来源：2023年电子技术应用第2期

0　引言

    随着芯片行业的快速发展，在芯片设计公司，芯片测试贯穿于整个设计生产过程中，测试验证是芯片设计中非常重要的一部分。当芯片量产回来，首要的任务是对芯片所有的功能和性能进行充分的测试验证，只有经过全面验证达到预期的设计指标，才能推进市场。而对于量产级的芯片，验证通常选取一定比例数量来进行抽样测试。

    目前，传统的芯片样品验证，在行业内大多是基于自身芯片特征设计相应的测试设备，通过测试夹具来逐一测试，针对不同的芯片需要设计不同的测试设备。图1为传统的芯片样品验证单板测试电路结构。单板测试对于样品数量要求多、测试时间长的测试项目来说，搭建环境、测试仪器设备的利用率以及时间配置完全不占优势，大大降低了测试效率，导致项目周期延长。




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作者信息：

徐靖林，王栋，魏斌，王赟，窦志军，成嵩

（北京智芯微电子科技有限公司，北京  100192）




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自适应 同步测试 样品验证 测试平台

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