提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法
作者：李超，陈培峰
发布日期：2007-08-29
摘要：一种提高TMS320LF2407A内部A/D" title="A/D">A/D采样精度" title="采样精度">采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈，并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器" title="排序器">排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离，在不影响采样速率" title="采样速率">采样速率的情况下提高A/D的采样精度。
关键词：数字信号处理器 TMS320LF2407A 数据采集
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